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产物中心半导体专用检测仪器设备RESmap 低电阻率测试仪
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电阻率测试仪（RESmap ）在对低电阻率晶锭和晶圆进行非接触式测量方式上拥有非常重要的重复性 Si | Ge | 化合物半导体 | 宽带隙 | 材料 | 金属 | 导电 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
更新时间：2025-11-04
产物型号：搁贰厂尘补辫-1
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